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顯微熔點儀--上海儀電物光

型號:SGW®X-4A

產(chan)品時(shi)間:2024-04-30

簡要描述:

顯微熔點儀--上海儀電物光
范圍:室溫~320℃;
最小讀數單位:0.1℃;
重復性:±1℃(<200℃);±2℃(≥200℃);
單(dan)目(mu)顯(xian)微鏡;光學(xue)放(fang)大倍(bei)數:40倍(bei)

詳細介紹
SGW® X-4B/SGW® X-4A/SGW® X-4 顯微熔點儀
顯微熔點儀--上海儀電物光              產品簡介:

測(ce)定(ding)物(wu)質的(de)熔點。主要(yao)用于藥物(wu)、化(hua)工、紡織、燃料、香料等(deng)晶體有機化(hua)合物(wu)之測(ce)定(ding)。儀器采(cai)用顯(xian)微(wei)鏡(jing)觀察方(fang)法,既可用毛細管法測(ce)定(ding),又可用載玻片(pian)-蓋(gai)玻片(pian)法(熱(re)臺法)測(ce)定(ding)。

SGWR X-4A、SGWR X-4B帶有防風罩,減少了環境對測(ce)試結果的影響(xiang)。

測定物(wu)(wu)質的熔(rong)點(dian)。主要(yao)用于(yu)藥物(wu)(wu)、化工、紡織、燃(ran)料、香料等晶體有(you)機化合物(wu)(wu)之(zhi)測定。儀器采(cai)用顯微鏡觀察方法(fa),既(ji)可用毛(mao)細管法(fa)測定,又可用載玻(bo)片(pian)-蓋(gai)玻(bo)片(pian)法(fa)(熱臺法(fa))測定。

SGWR X-4A、SGWR X-4B帶有防風罩(zhao),減少了環境對測試結果的(de)影響。

顯微熔點儀--上海儀電物光               技術參數:
儀器型號SGW® X-4BSGW® X-4ASGW® X-4
測量范圍

室溫~320℃

測量方法目視
測量模式毛細管法/熱臺法
最小示值

0.1℃

0.1℃1℃
示值誤差≤200℃±1℃;>200℃±2℃
觀察方式雙目體視顯微鏡單目顯微鏡單目顯微鏡
放大鏡倍數40×-100×變倍40×40×
電源220V±22V,50Hz±1Hz
儀器尺寸269×160×435mm215×140×395mm215×140×395mm
儀器凈重4kg3.6kg3.5kg




 


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